গরম রানার সিস্টেমে দুর্বল গ্রাউন্ডিং প্রাথমিকভাবে তিনটি প্রক্রিয়ার মাধ্যমে সিগন্যাল লিঙ্কে হস্তক্ষেপ করে: গ্রাউন্ড লুপ গঠন, ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক কাপলিং বৃদ্ধি এবং শিল্ডিং কার্যকারিতার অবনতি। সবচেয়ে সাধারণ পরিস্থিতিতে মাল্টি-পয়েন্ট গ্রাউন্ডিং জড়িত, যা একটি 50 Hz পাওয়ার-ফ্রিকোয়েন্সি গ্রাউন্ড লুপ কারেন্ট প্ররোচিত করে। এই কারেন্ট সরাসরি থার্মোকল দ্বারা উত্পন্ন মিলিভোল্ট লেভেলের সিগন্যালের উপর চাপিয়ে দেয়, যার ফলে তাপমাত্রা নিয়ন্ত্রক প্রকৃত তাপমাত্রার ভুল ব্যাখ্যা করতে পারে। এই ধরনের হস্তক্ষেপ এর ছলনাময় প্রকৃতি, নির্দিষ্ট অপারেটিং অবস্থার উপর নির্ভরশীলতা এবং ভুল নির্ণয়ের জন্য এর সংবেদনশীলতা দ্বারা চিহ্নিত করা হয়; এটি অনিয়মিত তাপমাত্রা রিডিংয়ের একটি সাধারণ মূল কারণ।
সিগন্যাল লিঙ্ক হস্তক্ষেপের জন্য তিনটি প্রাথমিক পথ:
1. গ্রাউন্ড লুপগুলি সাধারণ-মোড নয়েজের পরিচয় দেয় (প্রাথমিক কারণ)
যখন ডিভাইসগুলি-যেমন তাপমাত্রা কন্ট্রোলার, ডিস্ট্রিবিউশন বোর্ড, এবং ইনজেকশন মোল্ডিং মেশিন-বিভিন্ন গ্রাউন্ড পয়েন্টের সাথে সংযুক্ত থাকে, তখন গ্রাউন্ডিং গ্রিডের মধ্যে সম্ভাব্য পার্থক্যের কারণে একটি বন্ধ লুপ তৈরি হয় (যদিও এই পার্থক্যগুলির পরিমাণ মাত্র কয়েক মিলিভোল্ট হয়)।
এই লুপটি একটি 50 Hz বা 60 Hz পাওয়ার- ফ্রিকোয়েন্সি কারেন্ট প্ররোচিত করে, যা থার্মোকল সিগন্যাল লাইনের নেতিবাচক টার্মিনালের মধ্য দিয়ে প্রবাহিত হয়।
যেহেতু একটি থার্মোকলের আউটপুট একটি ক্ষীণ, মিলিভোল্ট-স্তরের সংকেত (যেমন, টাইপ K থার্মোকলের জন্য আনুমানিক 40 μV/ ডিগ্রি), এমনকি মিনিটের হস্তক্ষেপ তাপমাত্রা পড়ার ক্ষেত্রে উল্লেখযোগ্য বিচ্যুতি ঘটাতে পারে।
সাধারণ প্রকাশ: তাপমাত্রা প্রদর্শনটি পর্যায়ক্রমিক ওঠানামা প্রদর্শন করে, একটি ওঠানামা ফ্রিকোয়েন্সি মেইন পাওয়ার সাপ্লাইয়ের সাথে সিঙ্ক্রোনাইজ করে।
2. শিল্ডিং ব্যর্থতা: কেবলটি একটি "অ্যান্টেনা" হয়ে যায়
একটি সিগন্যাল তারের শিল্ডিং লেয়ারটি ডিজাইন করা হয়েছে বহিরাগত ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ফিল্ডকে মাটিতে সরিয়ে দেওয়ার জন্য; যাইহোক, যদি গ্রাউন্ডিং দুর্বল বা সম্পূর্ণ অনুপস্থিত হয়, তাহলে শিল্ডিং ফাংশন অকার্যকর হয়ে যায়।
ভেরিয়েবল ফ্রিকোয়েন্সি ড্রাইভ (ভিএফডি) এবং সার্ভো মোটরগুলির মতো ডিভাইসগুলির সাথে ঘনবসতিপূর্ণ পরিবেশে, কেবলটি সক্রিয়ভাবে উচ্চ-ফ্রিকোয়েন্সি ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক শব্দ (যেমন, PWM হারমোনিক্স) গ্রহণ করে।
এই শব্দ ক্যাপাসিটিভ কাপলিং এর মাধ্যমে তাপমাত্রা পরিমাপ সার্কিটে প্রবেশ করে, যার ফলে তাপমাত্রা রিডিং এ এলোমেলো লাফ বা প্রবাহিত হয়।
এই সমস্যাটি বিশেষভাবে গুরুতর হয় যখন ডবল-ঢালযুক্ত তারগুলি ব্যবহার করা হয় না, অথবা যখন শিল্ডিং স্তরটি একই সাথে উভয় প্রান্তে গ্রাউন্ড করা হয়।
3. গ্রাউন্ড বাউন্স সিগন্যালের অখণ্ডতাকে প্রভাবিত করে
When ground impedance is excessively high (>1Ω), বড় কারেন্ট ট্রানজিয়েন্ট-যেমন রিলে অ্যাকচুয়েশন বা MOSFET স্যুইচিং-গ্রাউন্ড লাইন বরাবর তাৎক্ষণিক ভোল্টেজ ড্রপ তৈরি করে।
এই ভোল্টেজটি রেফারেন্স গ্রাউন্ডের উপর চাপানো হয়, যার ফলে একাধিক তাপমাত্রা পরিমাপ চ্যানেল জুড়ে একযোগে স্পাইক হস্তক্ষেপ ঘটে।
এই ঘটনাটি বিশেষভাবে এমন সিস্টেমে উচ্চারিত হয় যেখানে উচ্চ গতির ডিজিটাল সার্কিটগুলি অ্যানালগ তাপমাত্রা পরিমাপ সার্কিটগুলির সাথে সহাবস্থান করে, সম্ভাব্যভাবে ভুল সিস্টেম রিসেট বা নমুনা বিকৃতিকে ট্রিগার করে।
ব্যবহারিক পরামর্শ: থার্মোকল সংকেত তরঙ্গরূপ ক্যাপচার করতে একটি অসিলোস্কোপ ব্যবহার করুন। যদি একটি স্বতন্ত্র সাইন ওয়েভ বা ক্ষণস্থায়ী স্পাইক ডিসি বেসলাইনের উপর চাপানো পরিলক্ষিত হয়, তবে এটি সাধারণত একটি গ্রাউন্ড লুপ বা ইএমআই হস্তক্ষেপের জন্য দায়ী করা যেতে পারে। ভূমির সাপেক্ষে এসি ভোল্টেজ পরিমাপকে অগ্রাধিকার দিন; যদি এটি 1 V AC-এর বেশি হয়, তাহলে গ্রাউন্ডিং সিস্টেমটি সংশোধন করার জন্য অবিলম্বে সংশোধনমূলক ব্যবস্থা নেওয়া উচিত।
