3-তারের সেন্সর ক্রমাঙ্কনের সময় সাধারণ ত্রুটিগুলি পরিমাপের সঠিকতা এবং সিস্টেমের স্থায়িত্বকে সরাসরি প্রভাবিত করে। মূল সমস্যাটি ক্ষতিপূরণ ব্যবস্থার প্রতিসাম্য প্রয়োজনীয়তা এবং সঠিক সিস্টেম কনফিগারেশন মিলের প্রয়োজনীয়তা উপেক্ষা করার মধ্যে রয়েছে। নিম্নলিখিত ত্রুটিগুলির কয়েকটি সাধারণ বিভাগ এবং তাদের পরিণতিগুলি রয়েছে:
I. অনুপযুক্ত ওয়্যার হ্যান্ডলিং: ক্ষতিপূরণ ভারসাম্য ব্যাহত করা
বিভিন্ন স্পেসিফিকেশনের তারের ব্যবহার: তারগুলি প্রতিস্থাপন বা প্রসারিত করার সময়, তিনটি কন্ডাক্টর উপাদান, তারের পরিমাপক এবং দৈর্ঘ্যের ক্ষেত্রে অভিন্ন রাখা হয় না; এটি অসামঞ্জস্যপূর্ণ সীসা প্রতিরোধের দিকে পরিচালিত করে, ব্রিজ সার্কিটকে ত্রুটিগুলি সম্পূর্ণরূপে বাতিল করা থেকে বাধা দেয়।
নির্বিচারে একটি একক তারের প্রতিস্থাপন: একটি ভিন্ন উত্পাদন ব্যাচ থেকে শুধুমাত্র একটি ভাঙা তারের সাথে একটি নতুন তার প্রতিস্থাপনের ফলে সূক্ষ্ম প্রতিরোধের পার্থক্য ঘটে যা পরিমাপের বিচ্যুতিতে জমা হয়।
ঢালবিহীন বা নিম্নমানের-ক্যাবল ব্যবহার করা: ঢালযুক্ত টুইস্টেড-জোড়া তারগুলি ব্যবহার করতে ব্যর্থতা সিস্টেমটিকে ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক হস্তক্ষেপের জন্য সংবেদনশীল করে তোলে, বিশেষ করে যখন পরিবর্তনশীল ফ্রিকোয়েন্সি ড্রাইভ বা বৈদ্যুতিক মোটরের কাছাকাছি থাকে তখন গুরুতর সংকেত ওঠানামা করে।
ফলাফল: তাপমাত্রার রিডিং প্রবাহ, পুনরাবৃত্তিযোগ্যতা দুর্বল, এবং নির্ভুলতা 2-তারের সিস্টেমের কাছাকাছি পৌঁছে যায়।
২. ভুল তারের পদ্ধতি: ক্ষতিপূরণ ব্যর্থতার কারণ
একই ব্রিজ আর্ম বা টার্মিনালের সাথে B এবং C তারগুলি সংযুক্ত করা: যন্ত্রের স্বতন্ত্র M+ এবং I+ টার্মিনালের সাথে সংযুক্ত হওয়ার পরিবর্তে, দুটি ক্ষতিপূরণ তারগুলি একই ইনপুট টার্মিনালের সাথে সংযুক্ত থাকে, যার ফলে তাদের ডিফারেনশিয়াল বাতিল করার ক্ষমতা হারায়।
শর্ট-সার্কিট M- এবং I- টার্মিনালের ব্যর্থতা: কিছু যন্ত্রের সার্কিট লুপ সম্পূর্ণ করার জন্য M- এবং I- টার্মিনালগুলির মধ্যে একটি বহিরাগত শর্ট-সার্কিট সংযোগ প্রয়োজন; যদি এই ধাপটি বাদ দেওয়া হয়, সংকেত একটি সম্পূর্ণ বৈদ্যুতিক পথ স্থাপন করতে পারে না।
তারের রঙের বিভ্রান্তি বা বিপরীত সংযোগ: ভুলভাবে একক উত্তেজনা তারের (ওয়্যার এ) একটি ক্ষতিপূরণ তার হিসাবে সংযোগ করা, বা অস্পষ্ট টার্মিনাল চিহ্নের কারণে ভুলভাবে সংযোগ করা।
ফলাফল: পরিমাপ করা মানগুলি প্রকৃত মানের থেকে ধারাবাহিকভাবে বেশি, এবং রিডিংগুলি নন-রৈখিক ত্রুটি প্রদর্শন করে যা পরিবেষ্টিত তাপমাত্রার পরিবর্তনের সাথে পরিবর্তিত হয়।
III. ক্রমাঙ্কন প্রক্রিয়া চলাকালীন অপারেশনাল ত্রুটি
3-ওয়্যার মোডের জন্য যন্ত্রটি কনফিগার করতে ব্যর্থতা: যন্ত্রটি 2-তারের গণনা যুক্তির অধীনে কাজ করে এবং সীসা ক্ষতিপূরণ অ্যালগরিদম সক্ষম করে না, যার ফলে পরিমাপের একটি পদ্ধতিগত ইতিবাচক বিচ্যুতি ঘটে।
একক-বিন্দু ক্রমাঙ্কন শুধুমাত্র: শূন্য বিন্দু শুধুমাত্র ঘরের তাপমাত্রায় ক্রমাঙ্কিত হয়, মাল্টি-বিন্দু রৈখিক ক্রমাঙ্কন (যেমন, 0 ডিগ্রী , 100 ডিগ্রী , এবং 200 ডিগ্রী ); ফলস্বরূপ, নন-রৈখিক অংশগুলির মধ্যে ত্রুটিগুলি সংশোধন করা যায় না৷
ব্যাপক সিস্টেম ক্রমাঙ্কনকে অবহেলা করা: শুধুমাত্র সেন্সর বডি ক্যালিব্রেট করা হয়, যখন কেবল, টার্মিনাল এবং মডিউলগুলি একটি অবিচ্ছেদ্য সিস্টেম হিসাবে ক্যালিব্রেট করা হয় না; এটি অবশিষ্ট সিস্টেম ত্রুটির ফলাফল.
ফলাফল: রিডিংগুলি নিম্ন-তাপমাত্রার সীমার মধ্যে সঠিক কিন্তু উচ্চ তাপমাত্রায় উল্লেখযোগ্য বিচ্যুতি প্রদর্শন করে, অথবা ক্রমাঙ্কনের কিছুক্ষণ পরেই ডিভাইসটি আবার সরে যায়।
IV পরিবেশগত এবং টুল-সম্পর্কিত সমস্যা
অস্থিতিশীল পরিবেশে ক্রমাঙ্কন: সাইটের কম্পন বা তাপমাত্রা এবং আর্দ্রতার তীব্র ওঠানামা রেফারেন্স স্ট্যান্ডার্ডের স্থায়িত্বকে আপস করে।
নিম্ন-প্রিসিশন স্ট্যান্ডার্ড সরঞ্জামের ব্যবহার: ব্যবহৃত স্ট্যান্ডার্ড রেজিস্ট্যান্স বক্স বা থার্মোমিটারের নির্ভুলতা সেন্সরের চেয়ে কম, যা এমন পরিস্থিতির দিকে পরিচালিত করে যেখানে একটি "নিম্ন-নির্ভুলতা মান একটি উচ্চ-নির্ভুল ডিভাইসে প্রয়োগ করা হয়।"
প্রি-উষ্ণ সরঞ্জামে ব্যর্থতা: রেফারেন্স স্ট্যান্ডার্ড এবং পরীক্ষার অধীনে থাকা যন্ত্রটি পর্যাপ্তভাবে পূর্বে-উষ্ণ করা হয়নি; তাদের অভ্যন্তরীণ সার্কিটগুলি তাপীয় ভারসাম্যে পৌঁছেনি, যার ফলে অস্থির রিডিং হয়।
